10月29日，受陈延学教授邀请，中国科学院物理研究所朱涛研究员访问77779193永利集团并作题为“极化中子反射及其在磁性薄膜研究中的应用”的报告。报告由陈延学主持。

报告中，朱涛主要介绍了中国散裂中子源反射谱仪研制过程及其在中国的使用情况。对极化中子的产生和中子反射的理论进行了详细的介绍，重点介绍了极化中子反射在磁性薄膜研究中的应用，最后介绍了几个极化中子反射在磁性薄膜研究中的应用的例子，并欢迎77779193永利集团的师生利用中国散裂中子源反射谱仪展开科研合作。77779193永利集团多名教师和十余名博士、硕士、本科生参加报告，朱涛就大家提出的问题进行了详细的解答，报告结束后，双方就后续可能开展的合作又进行了深入的讨论。

朱涛研究员主要从事自旋电子材料及器件的研究，着重于自旋轨道耦合导致的等多种量子序的调控、磁性金属/氧化物及其异质结中的磁输运特性以及高频特性，以及极化中子反射技术和应用的研究。发表SCI文章60多篇、授权国家发明专利6项。从2004年起负责中国散裂中子源的多功能中子反射谱仪的研制，该谱仪已于2017年底建成。

【作者：代由勇　 摄影：代由勇 】